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5、按照步骤4分别进行低温贮存、高温工作、高温
发布时间:2019-05-15 12:52

  由于厂家生产工艺、材料使用的不同而带来的质量降低,生产批次故障等原因,致使复位芯片在不同的工作环境中不能正常复位,从而导致税控产品不能正常工作,如不开机、工作异常等。

  目前的环境测试,主要是通过整机进行。这种测试方法主要有两个缺陷:一、一台整机测试一片复位芯片,效率低,可操作性不强,测试项目不全;二、测试数量受限,不能充分的反应问题。

  针对以上不足之处,提供一种可以同时对多个进行环境测试、从而可以充分测试不同的环境下能否可靠的复位的一种对批量进行环境测试的装置。

  解决其技术问题所采用的技术方案是:包括测试主板和稳压电源、环境试验箱、测试仪器;测试主板设置有电源接口、复位芯片接口 ;稳压电源连接测试主板的

  电源接口 ;环境试验箱与测试主板相连接,测试主板放置在环境试验箱内;测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。

  1、将待测复位芯片安装在接口上,安装数量根据测试情况而定,最多可达100片;

  2、通过稳压电源供电,在测试主板上通过短路环来控制每个复位芯片是否上电工作,即每个复位芯片是独立工作的;

  3、在常温环境下,首先用电流表测试每个的工作电流是否满足要求;其次用示波器分别监测输入电压、复位芯片复位管脚的电压跌落参数,二者进行比对,判断复位芯片是否异常,进而实现测试目的;

  4、将安装有的测试主板放入环境试验箱,进行低温工作试验;结束后,进行步骤3的操作;

  5、按照步骤4分别进行低温贮存、高温工作、高温贮存、恒定湿热工作、恒定湿热贮存试验;

  5.如权利要求4所述的显影盒,其特征是,所述两侧的安装轨道截面分别呈“和“I”形状。6.一种显影装置,包括芯片组件和显影盒,其特征是,所述芯片组件为如权利要求2或3所述的芯片组件,所述显影盒为如权利要求4或5所述的显影盒。本发明涉及一种清除玻璃微流控芯片微通道堵塞的方法。微全分析系统近年来发展很快,是当前最活跃的研究领域之一,旨在将分析实验室的主要功能集成到一块微流控芯片上,以满足各行业对分析的需求。用于制作微流控芯片的材料有硅、玻璃、聚合物等,其中玻璃具有良好的电渗性质和优良的光学性能,适于高精度加工,已广泛用于制作微流控芯片。玻璃芯片加工成本高昂,加拿大Alberta大学加工的通用型玻璃微流控芯片。

  效率低,可操作性不强,测试项目不全;测试数量受限,不能充分的反应问题。[0004]本的技术任务是针对以上不足之处,提供一种可以同时对多个复位芯片进行环境测试、从而可以充分测试不同的环境下复位芯片能否可靠的复位的一种对复位芯片批量进行环境测试的装置。境试验箱、测试仪器;测试主板设置有电源接口、复位芯片接口;电源接口;环境试验箱与测试主板相连接,测试主板放置在环境试验箱内;试主板的复位芯片接口相连。[0006]测试仪器包括电流表、示波器。[0007]测试主板的复位芯片接口为1?100个。[0009]将待测复位芯片安装在复位芯片接口上,安装数量根据测试情况而定,最多可达100片;[0010]通过稳压电源供电。

  测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。[0020]测试仪器包括电流表、示波器。[0021]测试主板的复位芯片接口为100个。[0022]使用时,将待测复位芯片安装在测试主板的复位芯片接口上,然后将测试主板放入环境试验箱,进行高温、低温、恒定湿热试验后,用电流表、示波器对待测复位芯片进行测试。[0023]除说明书所述的技术特征外,均为本专业技术人员的已知技术。一种对复位芯片批量进行环境测试的装置,其特征在于包括测试主板和稳压电源、环境试验箱、测试仪器;测试主板设置有电源接口、复位芯片接口;稳压电源连接测试主板的电源接口;环境试验箱与测试主板相连接,测试主板放置在环境试验箱内;测试仪器与测试主板的复位芯片接口相连。