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而不考虑 电源对这些电路的影响
发布时间:2019-05-07 05:20

  将于2019年4月1-3日在北京国家会议中心举行的EDI CON China 2019(电子设计创新大会)今日宣布了全体会议的主旨演讲嘉宾和完整的会议议程。4月1日(星期一)上午9:30在一层多功能厅A开始的主旨演讲将拉开为期3天的会议和展览的序幕。主旨演讲包括:

  作为工程师,我们的任务是为我们的射频、微波和高速数字电路实现最佳性能。然而,我们经常设计、仿真和测量性能,而不考虑电源对这些电路的影响。考虑电源影响意味着什么呢?本演讲着眼于电源对射频、微波和高速数字系统的多种影响,解释了我最喜欢的仿真、测量和排除这些复杂问题的技术之一。

  Steve Sandler在电力系统工程领域已经工作近40年。他是Picotest的创始人兼首席执行官。Picotest是一家专注于高性能电源系统和分布式系统测试的仪器和配件的公司。他也是AEi Systems的创始人,该公司专门从事在最坏情况下高可靠性电路的分析。Steve还是《Signal Integrity Journal》的编辑顾问。

  随着3GPP第15版的发布,无线通信行业已开始大规模生产5G设备、器件并开始初期的部署。本演讲将探讨未来的主要市场趋势和挑战,并概述测试和测量解决方案。

  Kailash Narayanan是Keysight Technologies的副总裁兼总经理。他领导无线行业解决方案业务部门,负责研发、产品和解决方案开发、营销和销售,以及无线生态系统的交付,包括芯片组制造商、设备行业、合同制造商、ODM和服务提供商。Kailash拥有伊利诺伊大学芝加哥分校电子与通信工程学士学位、电子工程与计算机科学硕士学位以及瓦尔登大学工商管理硕士学位。

  NR,即第五代新无线电通信系统即将通过将所有人和物都纳入全球通信网络而引发下一次革命。对容量的不断增长的需求要求在已有的频谱(频率范围1 = FR1)以及毫米波(频率范围2 = FR2),即30GHz及更高,的范围内部署新频谱。对于FR2,高度自适应的波束赋形天线是游戏的重要组成部分,伴随着极具挑战性的空中(OTA)测试和测量(T&M)需求。但是在FR1中,我们看到更复杂、更密集的集成架构,特别是在基站中,需要新的创新测试方法,包括OTA。本演讲将讨论5G NR OTA挑战,并概述辐射测试环境的解决方案,以优化技术的可行性、测试次数/周期和投资/维护需求。将讨论不同的几何形状和外形因素、频率范围和环境条件,以反映3GPP、CTIA、ETSI等相关标准化组织的最新进展。

  Alexander Pabst于1997年加入Rohde&Schwarz。从那时起,他在测试与测量部门担任过多个产品管理职位,之后于2014年成为测试与测量部门系统组副总裁。他的国际工作责任包括负责在新加坡和中国的开发和集成团队。

  主旨演讲之后,将开始各专题分会:5G先进通信、电源完整性、仿真与建模、测试与测量、毫米波、放大器设计、低功耗/物联网、前端设计、射频/微波设计和信号完整性。会议还包括是德科技教育论坛的一系列讲座。是德科技是大会的首席赞助商。其它主要赞助商包括:钻石赞助商罗德与施瓦茨;金牌赞助商:Mini-Circuits、福联集成电路、WIN Semiconductors、益丰电子和三安集成电路。